Гамбургский научно-технический семинар

Das wissenschaftlich-technische Seminar in Hamburg

Доклад "Статистический подход к оценке знаний учащихся"

Статистический подход к оценке знаний учащихся

Дата: 14.02.2019 в 16:00
Тема: Статистический подход к оценке знаний учащихся
Выступающий:
Натан Цейтлин, кандидат технических наук

Аннотация
Измерение уровня знаний учащихся в
процентах позволяет реализовывать
технологию объективного рутинного
компьютерного тестирования на каждом
занятии совместно с субъективной оценкой
уровня знаний на итоговом экзамене.

Обобщение уровня знаний учащихся
осуществляется путём расчёта численным
бутстреп-методом средневзвешенной
медианы полученных процентных оценок.

Об этом в строгой, но популярной форме будет рассказано в докладе.

Фото с сайта: https://www.om1.ru




Обсуждение доклада



Новое сообщение: 
Ваше имя:
eMail
(по желанию):
Текст сообщения:
Код с картинки:
Код на картинке
© 2008-2019 Научно-технический семинар
Рейтинг@Mail.ru